株式会社キャンパスクリエイト

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開放特許情報

特許情報

発明の名称 線形マルチポートのシステムパラメータの測定方法及び装置、ベクトルネットワークアナライザを用いた測定方法並びにプログラム
技術分野 IT
出願日 平成19年9月12日
出願番号 特願2007-236139
公開番号 特開2009-68932
登録番号 特許第4517119号
出願人 株式会社キャンパスクリエイト
発明者 矢加部 利幸
矢部 初男
近藤 昭治,肖鳳超,高橋 圭,山田 恭一
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概要 【特許請求の範囲】

【請求項1】
5ポート接合や6ポート接合などの2つの入力ポートと3つ以上の出力ポートを備える線形回路であって各出力ポートから出てくる波が前記2つの入力ポートに入る波の線形式で表される線形回路(以下、「線形マルチポート」と記す)に関して、前記線形マルチポートに固有の値であるシステムパラメータを測定する方法であって、
互いに位相が異なる第1の波、第2の波及び第3の波を用意し、前記線形マルチポートの一方の入力ポート1に予め定められた波(以下、「基準波a1」と記す)を入れ、他方の入力ポート2に前記第1の波、第2の波又は第3の波のいずれか(以下、「測定波a2」と記す)を入れたときの、前記基準波a1に対する前記第1の波、第2の波、第3の波の複素振幅比をそれぞれW0、W1、W2(ただし、W=a2/a1)に設定する位相設定ステップと、
前記線形マルチポートの一方の入力ポート1に前記基準波a1を入れるとともに、他方の入力ポート2を整合終端する基準電力測定準備ステップと、
前記線形マルチポートの各出力ポートの電力を測定し、それらを基準電力P3r、P4r、P5r・・・とする基準電力測定ステップと、
前記他方の入力ポート2の整合終端を外し、前記他方の入力ポート2に前記第1の波、第2の波、第3の波を順次加え、それぞれの波に対応する各出力ポートの電力{P30、P40、P50・・・}{P31、P41、P51・・・}{P32、P42、P52・・・}を順次測定する電力測定ステップと、
前記第1の波、第2の波、第3の波に対応して測定された前記各出力ポートの電力{P30、P40、P50・・・}{P31、P41、P51・・・}{P32、P42、P52・・・}を前記基準電力P3r、P4r、P5r・・・で正規化する正規化ステップと、
正規化された前記各出力ポートの電力、及び、前記複素振幅比W0、W1、W2に基づき前記システムパラメータkhを計算するか、又は、正規化された前記各出力ポートの電力、前記第1の波と第2の波の位相差ψ01及び前記第1の波と第3の波の位相差ψ02に基づき前記システムパラメータkhの比hkiを計算することのいずれかを行うシステムパラメータ計算ステップと、を備える線形マルチポートのシステムパラメータ測定方法。

【請求項2】
線形マルチポートに固有の値であるシステムパラメータを測定する方法であって、
前記線形マルチポートの一方の入力ポート1に基準波a1を入れるとともに、他方の入力ポート2を整合終端する基準電力測定準備ステップと、
前記線形マルチポートの各出力ポートの電力を測定し、それらを基準電力P3r、P4r、P5r・・・とする基準電力測定ステップと、
前記他方の入力ポート2の整合終端を外し、前記他方の入力ポート2にショートの標準器を接続し、そのときの第1の反射波に対する各出力ポートの電力{P30、P40、P50・・・}を測定するとともに、測定された当該電力を前記基準電力P3r、P4r、P5r・・・で正規化する第1電力測定正規化ステップと、
前記他方の入力ポート2に第1固定移相器を接続し、さらにこれにショートの標準器を接続し、そのときの第2の反射波に対する各出力ポートの電力{P31、P41、P51・・・}を測定するとともに、測定された当該電力を前記基準電力P3r、P4r、P5r・・・で正規化する第2電力測定正規化ステップと、
前記他方の入力ポート2に第1固定移相器及びこれに直列に接続された第2固定移相器を接続し、さらにこれにショートの標準器を接続し、そのときの第3の反射波に対する各出力ポートの電力{P32、P42、P52・・・}を測定するとともに、測定された当該電力を前記基準電力P3r、P4r、P5r・・・で正規化する第3電力測定正規化ステップと、
正規化された前記各出力ポートの電力、及び、前記第1の反射波、第2の反射波、第3の反射波の反射係数Γ0、Γ1、Γ2に基づき前記システムパラメータkhを計算するか、又は、正規化された前記各出力ポートの電力、前記第1の反射波と前記第2の反射波の位相差ψ01及び前記第1の反射波と前記第3の反射波の位相差ψ02に基づき前記システムパラメータkhの比hkiを計算することのいずれかを行うシステムパラメータ計算ステップと、を備える線形マルチポートのシステムパラメータ測定方法。

【請求項3】
前記システムパラメータ計算ステップは、下記の式(19)により前記システムパラメータkhを計算することを特徴とする請求項1記載の線形マルチポートのシステムパラメータ測定方法。

(以下、詳細は特許公報をご参照ください)

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