デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法

開放特許情報

発明の名称	デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法
技術分野	ものづくり, ナノテクノロジー
出願日	平成30年12月28日
出願番号	特願2018-247417
公開番号	特開2020-106477
登録番号
出願人	国立大学法人電気通信大学
発明者	美濃島薫浅原彰文
特許公報	PDFのダウンロードはこちらから
概要	【課題】試料を通過して変化する光周波数コムの各周波数モードの位相情報を正確に測定し、試料の移動を不要とし、高速に測定する。

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